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中文名:二氧化硅;化学式:SiO₂;英文名:Silicon dioxide(又称Silica);CAS号:7631-86-9。外观为白色粉末或透明固体,薄膜形态通常为非晶态(无定形)结构。相对密度约2.2 g/cm³(薄膜),熔点约1710℃,沸点约2230℃。不溶于水和大多数酸,溶于氢氟酸(HF)和热碱溶液,化学性质极为稳定

主要特点

一种宽禁带绝缘材料,可见光至近红外波段均具有极高的透过率。薄膜形态下折射率低至约1.46,是光学膜系中经典的低声折射率匹配层。具备优异的电绝缘性、高抗激光损伤阈值以及良好的热稳定性。致密薄膜可作为高效的扩散阻挡层与水氧阻隔层。同时,薄膜内应力可通过工艺参数调节,与硅基及其他半导体基底兼容性极佳

应用范围

1. 光学减反射与干涉膜:作为低折射率层,与TiO₂、Ta₂O₅等高折射率材料交替叠加,用于精密光学镜头、滤光片及显示器盖板
2. 半导体与微电子器件:
作为层间介质层(ILD)、栅极绝缘层、钝化层及刻蚀硬掩模,用于集成电路制造
3. 光纤与光波导:
作为光纤包层材料或集成光波导的隔离层
4. 微机电系统与传感器:
作为MEMS器件中的牺牲层、绝缘层或结构层
5. 新能源与柔性封装:
用于OLED柔性显示的水氧阻隔层及锂离子电池电极涂层6. 耐磨与防腐涂层:用于玻璃表面增透、金属防腐蚀及机械部件耐磨保护

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